Scientific Precision Instruments GmbH
Strukturen bis in den subnanometer Bereich werden nun sichtbar mit der Mikroskopkamera TIMM, optische Qualitätskontrolle in einer neuen Dimension
Oppenheim (ots)
Dem Unternehmen SPI GmbH in Oppenheim ist mit seiner Neuentwicklung gelungen, feinste Strukturen für optische Qualitätskontrolle zu erschliessen: Das TIMM (Technical Industrial Miniature Microscope) kann jetzt z.B. auch Datenpakete auf CD's sichtbar machen und Leiterbahnen auf einem Wafer prüfen. So profitieren nun Anwender aus den Bereichen Mikro- und Nanotechnik von dem in der Robotik etablierten TIMM.
Da das Mikroskop durch seine kleinen Abmessungen (155 mm x 22 mm) sehr einfach in bestehende Anlagen integriert werden kann, wird prozessbegleitende Kontrolle in Gebieten möglich, in denen bisher direkt vor Ort keine optischen Informationen erfasst werden konnten.
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